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痕量锗的HG􀀂ICP 测定及介质对其测定的影响的研究

林晨雨 | -> | 888| 2| 0.197885MB |锗,氢化法,电感耦合等离子体原子发射光谱,介质影响

林晨雨 林晨雨 | 文档量 |浏览量16867

摘􀀁 要􀀁 采用氢化物发生􀀂电感耦合等离子体原子发射光谱法测定痕量锗的方法, 系统地考察了不同酸介质、NaBH 4 浓度及共存元素的影响, 确定了最佳测定条件。方法的检出限为0􀀁 2 ng 􀀂 mL- 1 , 精密度为0􀀁 9%。用环境标准物质进行对照, 其测定值均在给定的标准范围之内。并且针对反应介质对锗测定的影响,进行了详尽的研究。
    锗是对人体有益的微量元素。很多的研究表明, 锗有抗癌、抗炎、抗病毒和免疫调节、抗衰老作用。锗在实际样品中的含量较低, 直接测定有一定的困难。采用氢化法测定锗[1􀀂3] , 可以达到富集待测元素、降低检出限的目的。本文利用HG􀀂ICP􀀂AES 法测定了环境样品中的锗, 研究了各项实验条件对测定的影响。结果表明, 该方法具有灵敏度高、干扰少、准确性好等优点。并且针对反应介质对锗的测定的影响, 进行了充分的研究。也有用分光度法测定锗[ 4] 。
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