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新型共轭聚合物PFO_BT15发光二极管的电老化研究

马致远 | -> | 958| 0| 0.387122MB |共轭聚合物,电老化,电致发光,喇曼光谱

马致远 马致远 | 文档量 |浏览量15603

摘 要 PFO2BT15 是一种电致发光中心波长为550 nm 的新型共轭高分子聚合物材料, 将其制成发光二极管器件, 结构为ITO 玻璃/ 聚合物PEDOT (120 nm) / 有机聚合物PFO2BT15 (80 nm) / Ba (4 nm) / Al (200nm) , 用环氧树脂对阴极侧进行了封装, 以减少氧气和水分的进入, 从而影响器件的发光性能。在室温环境下对同样的器件进行不同电流密度的电老化处理, 记录器件的电流电压曲线, 再对老化的样品做电致发光和喇曼光谱测试。实验发现: 一方面, 通过器件恒定电流的大小影响器件的电压变化速度; 另一方面, 器件经过一定长时间的电老化, 电致发光中心波长变化较小。通过啦曼光谱的测试, 推断是因为PEDOT 阳极的破损导致了器件的最终发光失败, 而器件发光层材料的结构保持相对稳定, 说明这种结构的聚合物有着相对稳定的光电性能, 对于提高材料发光的稳定性提供了有价值的信息, 有助于其他高效发光材料的合成以及稳定性的提高。
    作为新一代显示器件, 聚合物L ED 具有很大的发展潜力[1 ] 。目前聚合物发光器件要解决的一个问题的是寿命问题。这个问题可能由多种原因引起, 但是发光材料的发光寿命是这个问题的关键, 这就意味着材料必须就有很好的稳定性。作为商品化的OL EDs , 在不同的环境中, 对不同的应用
领域必须满足不同的寿命要求(100~10 000 h) 。为了提高OL EDs 器件的稳定性从而延长器件的寿命, 常对一些不同材料, 不同条件下制备的器件样品进行一些有目的的老化试验, 从中分析影响器件稳定性的主要因素。在此基础上找到器件老化的机理, 并提出可能有效的解决方案, 研制出更高性能的器件。
    器件的老化问题每年都有很多文章讨论[2-5 ] 。目前共轭聚合物电致发光的研究已由亮度颜色的竞争过度到寿命的竞争, 从相关文献中我们归结出聚合物发光器件短寿命的一些原因, 有光氧化发应[6 ] , 黑斑效应, 金属电极接触反应, 电子空穴注入问题, 阴极的选择[7 ] , 量子效率, 阳极ITO 层与空穴传输层的高势垒问题[8 ] , 空穴传输层的重结晶[9 ] , 有机层之间的相互扩散效应[10 ] , 器件结构[7 ] , 电极层的破损[11 ] ,发光亮度的衰减与注入电流密度成正比例[12 ] 等等。有机无机复合光电导器件[13 ] 是一种新型发光器件, 它的老化寿命问题也有待于研究。所以聚合物发光器件要想达到实际应用的目标所面临的问题还很多。
    本实验的聚合物器件发光层, 使用了一种新型聚合物发光材料PFO2BT15 , 对封装好的器件在普通实验室环境下对其进行电老化处理, 通过电致发光谱和拉曼光谱测试来判断发光层材料的结构和性能的变化。在器件以恒定电流点亮的过程中, 器件的发光亮度会逐渐降低, 发光层的分子共轭结构也会在点亮的过程中发生变化, 而不同发光材料的结构稳定性也有一定的差异, 所以它们在器件点亮过程中表现出不一样的发光稳定性。通过老化实验我们发现此聚合物发光材料比以前文献中发光材料的光电性能和稳定性有了一定的提高[14 ] , 这对于今后的发光材料的合成提供了有用的信息。
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