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关键词：
电感耦合等离子体-原子发射光谱法,水性油墨,重金属
发表时间：
2011-12-08 11:36:54
ICP_AES分析纳米二氧化硅表面吸附的金属元素含量
楼晓 | -> | 929| 1| 184.59MB |电感耦合等离子体-原子发射光谱法,纳米二氧化硅,金属元素
摘 要 纳米二氧化硅有着优越的亲水性、稳定性, 已广泛应用在涂料、橡胶、医药、造纸等行业。近年来, 它又被开发应用到农业, 食品等领域。因而, 对纳米二氧化硅中有害金属元素和杂质金属元素的检测显得非常重要。本文探索了ICP2A ES 法检测高纯纳米二氧化硅中Pb、M n、Zn 3 种元素含量, 实验中得到该方法对3 种元素的检出限分别为: 0. 021、0. 0003、0. 0057mgöL , 三种元素的RSD 均小于1% , 回收率99% —102%。最后称取3 份样品做平行分析检测, 得到元素含量基本相同。
纳米材料是指三维空间尺度至少有一维处于纳米量级(1—100nm ) 的材料, 它是由尺寸介于原子、分子和宏观体系之间的纳米粒子所组成的新一代材料。纳米二氧化硅为无定型白色粉末, 是一种无毒、无味、无污染的非金属材料。微结构为球形, 呈絮状和网状的准颗粒结构。它具有独特性质如抗紫外线的光学性能; 它还可提高材料的抗老化性和耐化学性; 将纳米二氧化硅分散在材料中,可提高材料的强度、强性; 还具有吸附色素离子、降低色素衰减的作用等[1 ]。近年来, 纳米二氧化硅又被开发应用到农业和食品领域。因此, 本文探索了ICP2A ES 检测纳米二氧化硅中有害金属元素Pb 以及杂质元素M n, Zn 的含量, 以确保纳米二氧化硅能够安全的应用在相关领域。
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