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用光声技术研究半导体TiO_2_ZnO纳米晶粉的光学特性

周建和 | -> | 1058| 0| 1.535705MB |光声光谱,纳米颗粒,半导体纳米晶粉

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摘 要 应用新型的光声光谱技术,研究了不同种类和不同制备工艺条件的半导体纳米晶粉的光学特性,测量了半导体TiO2、ZnO和掺铝ZnO纳米晶粉的光声光谱,获得了这些半导体纳米晶粉的带隙和光谱吸收系数。研究结果表明,相同种类和相同颗粒形状的半导体纳米晶粉的粒径越小,光学吸收系数越大。半导体纳米晶粉的带隙与相同种类纳米颗粒形状(圆球形或棒形)密切相关。通过掺杂、改变粒径尺寸、改变形状可以达到改变纳米晶的光学、电学特性的目的。
    光声光谱技术是通过测量物质吸收光后所产生的光声信号进行光谱测量的新型光谱技术。由于光声信号与散射光无关。因此特别适用于颗粒、粉末、污迹和混浊液体等强散射物质的光谱检测与分析,在材料科学[1,2]、生物医学[3,4]等领域具有广泛的应用。用光声光谱技术测量纳米晶粉的光学特性,具有灵敏度高、普适性强和非破坏性测量等优点。由于纳米晶粉通常是强散射、非透明物质,用传统的吸收光谱法测量纳米晶粉的光谱吸收系数和带隙等参数,会遇到难以克服的障碍。而光声光谱技术是测量物质吸收光后所产生的热能,与散射光无关,因而完全避免了散射光的影响。本文利用光声光谱技术测量了半导体TiO2,ZnO和掺铝ZnO纳米晶粉的光声光谱,并测量了它们的光谱吸收系数,进而测出了半导体TiO2,ZnO和掺铝ZnO纳米晶粉的带隙。科学家们预言纳米材料将是21世纪的材料,是材料的一次革命。研
究半导体纳米晶的光学特性的目的是揭示用非损伤检测实时控制进行制备纳米材料的更有效的途径和方法,具有实际应用价值。
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