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关键词：
无机质谱法,固体分析,应用
发表时间：
2012-06-29 11:30:37
摘要 本文归纳了无机质谱法在固体直接分析中的应用，并详细阐述了辉光放电质谱法(GDMS)、二次离子质谱法( SIMS)、激光溅射电感耦合等离子体质谱法(LA-ICPMS)和激光电离质谱法(LIMS)四种可用于固体样品直接检测的无机质谱法的检测原理、应用以及各自的优缺点。
固体样品中元素的分析在冶金、地质、矿产、环保、国防和半导体工业等领域具有极其重要地位，固体样品通常采用强酸溶解消化，然后以原子光谱或质谱法进行检测。近年来，固体样品的直接分析方法越来越受到人们的关注。与固体溶解分析法相比，直接分析法能够节约大量的样品制备时间，特别是在固体样品难以溶解或毒性、放射性很强的情况下，固体元素直接分析法具有其他方法无法比拟的优越性。另外，直接分析法免除了样品溶解过程中产生的污染和待测元素损失等问题，从而获得更精确的实验结果。
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