JEM-ARM200F原子分辨分析型透射电镜

技术参数：
1.分辨率：STEM 0.08 nm
                   TEM0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector）
2.放大倍数：STEM 100 to 150,000,000x
          TEM50 to 2,000,000x
3.加速电压： 200 kV
4.球差校正器STEM Cs corrector Standard
                 TEM Cs corrector Optional
5.其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc.
主要特点：
原子分辨率 S/TEM
标配照明系统的球差校正器，STEM分辨率 0.08 nm, 为世界最高的商业化透射电镜，同时使其具有无与伦比的分析功能。
极强的抗干扰能力和超高稳定性
JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。
可以选配成像系统的球差校正器
点分辨率可以提高到 0.11 nm.
操作极为简单
克服了球差校正透射电镜难于操作的难题。